目前光譜儀的掃描儀器已經在工業應用上非常普遍，有著性能佳，效率高，不傷物體等優良的特性。在光譜儀的使用中對峰變化情況尤為重要，但光譜儀掃描時峰有時會呈現奇怪的變化，比如峰形不光滑，有小鋸齒狀、只出現噪聲信號，沒有峰位信號。這兩種情況都是屬于不正常的現象，下面重慶優昂機電針對這兩種情況做簡單地分析。
   首先我們需知道，光譜分析儀器是一種用于測量發光體的輻射光譜，即發光體本身的指標參數的儀器。所以在分析儀器中對于內部晶體的情況是相當重視的。

 一、2θ掃描時，發現峰形不光滑，有小鋸齒狀。
   在光譜分析儀器內部結構中，晶體對于檢測效果具有相當重要的地位，但其也是光譜儀分期儀器中最為脆弱的部件。對于晶體有個重要特性——容易受污染，所以不能用手或者其他東西去觸碰晶體，污染晶體會導致晶格間距發生變化，在X射線熒光的衍射主要發生在晶體的表面，因此造成2θ掃描的峰形不光滑。而對于處理晶體的方法，有很多相關的教程，但是都不能夠快速的做到清除，當急用時可直接找相關的技術人員做替換，所以重慶優昂機電建議對于晶體的維護應該多加注重。
   二、2θ掃描時只出現噪聲信號，沒有峰位信號。
   1.測角儀的θ和2θ耦合關系發生混亂，通常是控制θ和2θ耦合關系的CMOS中的數據由于電池漏電等原因丟失，這時需要重新對光。
   2.探測器的前置放大電路出現故障，出現的噪聲信號為電路噪聲，不是X射線信號。
   重慶光譜儀分析儀器廠家擁有獨立的團隊，不管是理論知識還是相關操作經驗都是豐富的，重慶優昂機電廠家就光譜儀有數款不同的類型，有直讀式光譜儀、便攜式/手持式光譜儀、等離子發射光譜儀、XRF光譜儀。

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