便攜式金屬光譜分析儀器根據分子對紅外光吸收后得到譜帶頻率的位置、強度、形狀以及吸收譜帶和溫度、聚集狀態等的關系便可以確定分子的空間構型，求出化學建的力常數、鍵長和鍵角。從光譜分析的角度看主要是利用特征吸收譜帶的頻率推斷分子中存在某一基團或鍵，由特征吸收譜帶頻率的變化推測臨近的基團或鍵，進而確定分子的化學結構，當然也可由特征吸收譜帶強度的改變對混合物及化合物進行定量分析。

SPECTRO TEST 便攜式金屬光譜分析儀器--------卓越的現場金屬材料分析專家
新的設計 新的技術 卓越的性能
1、SPECTROTEST 是一臺通用的便攜式光譜光譜分析儀器，廣泛用于金屬材料生產、加工和廢舊金 屬回收。無論對小樣品、細絲、曲面或焊縫，無論是在野外或者煉鋼平臺以及在金屬回收現場，SPECTRO TEST 憑借其先進的技術和可靠的性能，都可有卓越的表現。
2、全新等離子體數字化的激發光源是第一個用于火花發射光譜的全數字激發光源。該技術可以大大避免傳統技術的弱點，顯著提高檢測精度和重復性，縮短分析時間。特殊設計的光學系統與實驗室光譜儀采用的光緒系統一致，可以記錄所有分析波長范圍內的譜線，并且具有優異的精確度，穩定性和分辨率。這個光學系統為了適合移動光譜而設計得更加緊湊，光學器件，如全息光柵、CCD檢測器等都是完全密封的，使得光學系統不受灰塵和震動等外界因素的影響。
3、ICAL智能邏輯標準化功能可以時刻監控光譜儀的測量系統，保證其處在最佳狀態。分析數據由全新的高性能讀出系統進行處理，數據處理速度比以前的系統快50倍，大大提高了SPECTRO TEST的分析能力和數據處理能力。使光譜儀免受環境溫度和地點變化帶來的影響。
4、方便可拔插式的激發槍更換起來非?？旖莘奖?，內置UV光室的激發槍可檢測C、P、S、B、As等元素。對于檢測管材、線材或者其他形狀的材料，有特殊夾具可供選擇。夾具更換十分方便。如遇無電源或電源不穩的情況下，SPECTRO TEST 可由電池進行供電，可充電電池可供光譜儀進行幾百次的激發，并且可裝在小車里或隨身攜帶。這樣可使SPECTRO TEST 便攜式光譜儀在幾乎所在的地方使用。
5、方便移動和轉向使儀器小車可以適合長時間使用和頻繁移動。安全基座使小車可以和儀器連為一全。符合人體工程學設計，使儀器可以垂直操作，并且有適當的操作高度，如果需要，小車可以分解為業幾部分，只需要秀小的空間就可以方便地儲存和運輸。

1．保持室內干燥，空調和除濕機必須全天開機（保持環境條件 2５±１０℃左右，濕度≤７０％）；
2．保持實驗室安靜和整潔，不得在實驗室內進行樣品化學處理， 實驗完畢即取出樣品室內的樣品。
3．經常檢查干燥劑顏色，如果蘭色變淺，立即更換。
4．根據樣品特性以及狀態，制定相應的制樣方法并制樣。
5．測試紅外光譜圖時，掃描空光路背景信號和樣品文件信號， 經傅立葉變換得到樣品紅外光譜圖。根據需要，打印或者保存紅外光譜圖。
6．實驗完畢后在記錄本上記錄使用情況。
7．設備停止使用時，樣品室內應放置盛滿干燥劑的培養皿。
8．干燥劑再生：將干燥劑在烘箱內105℃烘干至蘭色（約3小 時）即可。
9．將壓片模具、KBr晶體、液體池及其窗片放在干燥器內備用。
10．液體池使用NaCl、CaF2、BaF2等晶體很脆易碎，應小心保存。
11．液體池使用的KRS-5晶體劇毒，使用時避免直接接觸（戴手 套），打磨KRS-5晶體時避免接觸或吸入KRS-5粉末，打磨的廢棄物必須妥善處理。

一、操作步驟
1．開機前準備
開機前檢查實驗室電源、溫度和濕度等環境條件，當電壓穩定，室溫為21±5℃左右，濕度≤65％才能開機。
2．開機
開機時，首先打開儀器電源，穩定半小時，使得儀器能量達到最佳狀態。開啟電腦，并打開儀器操作平臺OMNIC軟件，運行Diagnostic菜單，檢查儀器穩定性。
3．制樣
根據樣品特性以及狀態，制定相應的制樣方法并制樣。
4．掃描和輸出紅外光譜圖
測試紅外光譜圖時，先掃描空光路背景信號（Collect→Background），再掃描樣品文件信號（Collect→Sample)，經傅立葉變換得到樣品紅外光譜圖。
5．關機
（1）關機時，先關閉OMNIC軟件，再關閉儀器電源，最后關閉計算機并蓋上儀器防塵罩。
（2）在記錄本記錄使用情況。

二、注意事項
1．測定時實驗室的溫度應在15～30℃，所用的電源應配備有穩壓裝置。
2．為防止儀器受潮而影響使用壽命，紅外實驗室應保持干燥（相對濕度應在65%以下）。
3．樣品的研磨要在紅外燈下進行，防止樣品吸水。
4．壓片用的模具用后應立即把各部分擦干凈，必要時用水清洗干凈并擦干，置干燥器中保存，以免銹蝕。
5．OMNI采樣器使用過程中必須注意以下幾點：
（1）樣品與Ge晶體間必須緊密接觸，不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發生衰減全反射，不進入樣品層。
（2）對于熱、燙、冰冷、強腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進行測定，以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
（3）尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣，因為這些樣品極易刮傷晶片，甚至使其碎裂。